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电子元器件可靠性设计

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索取号:TN602/20081
作者:王蕴辉、于宗光、孙再吉、
出版社:北京 : 科学出版社, 2007

质量与可靠性管理

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索取号:TN6/20052
作者:彭苏娥、王蕴辉、王群勇、
出版社:北京 : 电子工业出版社, 2004