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名称 集成电路系统设计、验证与测试
索引号 TN402/20091
分类号 TN402
TN402(设计)
TN40(一般性问题)
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 谢弗、拉瓦尼奥、马丁、陈力颖、王猛、
出版社 北京 : 科学出版社, 2008
ISBN 978-7-03-021490-4
页数 xiv, 475页 : 图 ; 26cm
价格 CNY62.00
标签 ic、
简介
注解 责任者(Scheffer)、(Lavagno)、(Martin)规范汉译姓：谢弗，拉瓦尼奥，马丁 有书目
书籍简介

《集成电路系统设计、验证与测试》是“集成电路EDA技术”丛书之一，内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DFT，而且专门探讨了ATPG，以及模拟和混合信号测试等，《集成电路系统设计、验证与测试》还为IC测试提供了方便而全面的参考。