大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 理论 » Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures = 半导体异质结构与纳米结构表征
| 名称 | Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures = 半导体异质结构与纳米结构表征 | |
| 索引号 | TN304.01/E20111 | |
| 分类号 | TN304.01 TN304.01(理论) TN304.0(一般性问题) TN304(材料) TN30(一般性问题) TN3(半导体技术) TN(无线电电子学、电信技术) T(工业技术) |
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| 作者 | ||
| 出版社 | 北京 : 科学出版社, 2010. | |
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| 页数 | ix, 486 p., : ill. ; 25 cm. | |
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| 简介 | ||
| 注解 | Reprint. Originally published: Amsterdam ; Oxford : Elsevier, c2008. 9780444530998. | |










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