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索取号：TN304.055/20121
作者：崔玉民、张文保、洪文珊、
出版社：北京 : 化学工业出版社, 2011
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索取号：TN304.01/E20111
作者：
出版社：北京 : 科学出版社, 2010.
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索取号：TN304.07/20101
作者：杨德仁、
出版社：北京 : 科学出版社, 2010
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索取号：TN304.055/20091
作者：叶志镇、吕建国、吕斌、
出版社：杭州 : 浙江大学出版社, 2008
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索取号：TN304.07-53/E801/1978
作者：Semiconductor Test Conference (1978 : Cherry Hill、 Township、 N.J.)、IEEE Computer Society. Test Technology Committee.、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.、
出版社：New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Long Beach, Calif. : available from IEEE Computer Society Publications Office, c1978.
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索取号：TN304.054/E20081
作者：
出版社：Chichester, England ; Hoboken, NJ : Wiley, c2007.
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索取号：TN304.07/841.2
作者：许振嘉、
出版社：北京 : 科学出版社, 2007
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索取号：TN304.053/E701
作者：Sittig、 Marshall.、
出版社：Park Ridge, N.J. : Noyes Development Corp., 1969.
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索取号：TN304.07-53/E801/1977
作者：Symposium on Semiconductor Memory Testing (1977 : Cherry Hill、 N.J.)、IEEE Computer Society. Mideastern Area Committee.、IEEE Computer Society. Philadelphia Chapter.、
出版社：New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1977.
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索取号：TN304.07-53/E801/1973
作者：Symposium on Semiconductor Memory Testing (1973 : Cherry Hill)、IEEE Computer Society Mideastern Area Committee.、The Philadelphia Chapter of the Institute of Electrical and Electronics Engineers、 Inc.、
出版社：New York : IEEE, c1973.
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索取号：TN304.05/E801
作者：Bond、 Walter Lysander、 1903-、
出版社：New York : John Wiley Wiley, 1976.
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索取号：TN304.055/E801
作者：
出版社：London ; New York : Academic Press, 1978.
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索取号：TN304.055/E802
作者：
出版社：New York : Wiley, 1978.
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索取号：TN304.055-53/E901/1981
作者：INFOS 81 (1981 : Erlangen、 Germany)、Schulz、 M. (Max)、Pensl、 G. (Gerhard)、
出版社：Berlin ; New York : Springer-Verlag, 1981.
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索取号：TN304.07/20071
作者：刘新福、杜占平、李为民、
出版社：北京 : 冶金工业出版社, 2007
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索取号：TN304.054/931
作者：杨树人、丁墨元、
出版社：北京 : 国防工业出版社, 1992
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粤公网安备 44030602003680号