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名称 Advanced Test Methods for SRAMs [electronic resource] : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
索引号
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(| 08 环境公报)
作者 Bosio、 Alberto.、Dilillo、 Luigi.、Girard、 Patrick.、Pravossoudovitch、 Serge.、Virazel、 Arnaud.、SpringerLink (Online service)、
出版社 Boston, MA : Springer US, 2010.
ISBN
页数 digital.
价格 doi
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