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Advanced Test Methods for SRAMs [electronic resource] : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

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作者：Bosio、 Alberto.、Dilillo、 Luigi.、Girard、 Patrick.、Pravossoudovitch、 Serge.、Virazel、 Arnaud.、SpringerLink (Online service)、
出版社：Boston, MA : Springer US, 2010.