大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » | 08 环境公报 » Interfacial Compatibility in Microelectronics [electronic resource] : Moving Away from the Trial and Error Approach
| 名称 | Interfacial Compatibility in Microelectronics [electronic resource] : Moving Away from the Trial and Error Approach | |
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| 分类号 | (| 08 环境公报) |
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| 作者 | Laurila、 Tomi.、Vuorinen、 Vesa.、Paulasto-Kr枚ckel、 Mervi.、Turunen、 Markus.、Mattila、 Toni T.、Kivilahti、 Jorma.、SpringerLink (Online service)、 | |
| 出版社 | London : Springer London, 2012. | |
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| 页数 | IX, 217p. 128 illus., 15 illus. in color. digital. | |
| 价格 | doi | |
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| 简介 | ||
| 注解 | ||










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