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Interfacial Compatibility in Microelectronics [electronic resource] : Moving Away from the Trial and Error Approach

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作者：Laurila、 Tomi.、Vuorinen、 Vesa.、Paulasto-Kr枚ckel、 Mervi.、Turunen、 Markus.、Mattila、 Toni T.、Kivilahti、 Jorma.、SpringerLink (Online service)、
出版社：London : Springer London, 2012.