大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 半导体集成电路（固体电路）(分类号：TN43)(共291本)

分类依据：单片集成电路入此。

Fundamentals of high-frequency CMOS analog integrated circuits = 高频CMOS模拟集成电路基础

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索取号：TN432/E20121
作者：Leblebici、 Duran.、Leblebici、 Yusuf.、
出版社：北京 : 科学出版社, 2011.

数字集成电路容错设计 : 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误

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索取号：TN431.2/20112
作者：李晓维、
出版社：北京 : 科学出版社, 2011

纳米CMOS电路和物理设计

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索取号：TN432/20113
作者：王班、辛维平、
出版社：北京 : 机械工业出版社, 2011

纳米CMOS集成电路 : 从基本原理到专用芯片实现

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索取号：TN432/20111
作者：维恩德里克、周润德、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2011

数字集成电路设计 : 从VLSI体系结构到CMOS制造 : from VLSI architectures to CMOS fabrication

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索取号：TN431.202/20111
作者：凯斯林、张盛、戴宏宇、
出版社：北京 : 人民邮电出版社, 2011

通用数字集成电路简明速查手册

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索取号：TN431.2-62/20111
作者：刘畅生、于臻、宋亮、
出版社：北京 : 人民邮电出版社, 2011

模拟集成电路设计的艺术

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索取号：TN431.102/20111
作者：卡门青德、白煜、李锵、
出版社：北京 : 人民邮电出版社, 2010

美国德克萨斯仪器公司TTL集成电路特性应用手册

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索取号：TN431.2-62/711
作者：上海半导体器件研究所 翻译组、
出版社：上海 : 译者, 1984

巧学巧用数字集成电路实用技术

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索取号：TN431.2/20111
作者：孙余凯、项绮明、吴鸣山、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2010

CMOS器件及应用

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索取号：TN432/20112
作者：彭军、
出版社：北京 : 科学出版社, 2009

数字集成电路测试优化 : 测试压缩、测试功耗优化、测试调度

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索取号：TN431.207/20101
作者：李晓维、
出版社：北京 : 科学出版社, 2010

数字集成电路设计验证 : 量化评估、激励生成、形式化验证

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索取号：TN431.2/20102
作者：李晓维、
出版社：北京 : 科学出版社, 2010

Advanced CMOS cell design

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索取号：TN432/E20101
作者：Sicard、 Etienne.、Ben Dhia、 Sonia.、
出版社：New York : McGraw-Hill, c2007.

线性集成电路设计

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索取号：TN431.102/20101
作者：考霍莱、贾殷、陈力颖、黄晓宗、
出版社：北京 : 科学出版社, 2010

Verilog HDL与数字ASIC设计基础

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索取号：TN431.202/20101
作者：罗杰、
出版社：武汉 : 华中科技大学出版社, 2008

MOS集成电路结构与制造技术

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索取号：TN432/20101
作者：潘桂忠、
出版社：上海 : 上海科学技术出版社, 2010