大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 自动检测、仪器、仪表(分类号：TP216)(共32本)

分类依据：智能仪表入此。

虚拟仪器及其在机械测试中的应用

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索取号：TP216/20081
作者：柏林、王见、秦树人、
出版社：北京 : 科学出版社, 2007

智能仪器设计基础

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索取号：TP216/20084
作者：史健芳、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2007

智能仪器设计

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索取号：TP216/20083
作者：付华、郭虹、徐耀松、
出版社：北京 : 国防工业出版社, 2007

虚拟仪器技术分析与设计

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索取号：TP216/20082
作者：张重雄、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2007

秦氏模型－－基于智能虛拟控件的仪器

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索取号：TP216/20072
作者：尹爱军、王见、周传德、
出版社：北京 : 科学出版社, 2007

Autotestcon '85, November 1,2,3, Hyatt Regency, Tarrant County Convention Center, Fort Worth, Texas new horizons in automatic testing

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索取号：TP216-53/E901/1985
作者：IEEE International Automatic Testing Conference (1985 : Fort Worth、 Tex.)、Institute of Electrical and Electronics Engineers.、
出版社：New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Piscataway, NJ : Copies from Order Dept., IEEE, 1985.47,c1983.

Curriculum for test technology : M.E.I.S. Center, University of Minnesota, Minneapolis, 1983, November 16-17, 1983

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索取号：TP216-53/E902/1983
作者：
出版社：N.J. Silver Spring, MD : IEEE Computer Society Press ; Los Angeles, CA : Order from IEEE Computer Society, 1983.

Autotestcon '82, October 12-14 : 1982 IEEE International Automatic Testing Conference, Dayton Convention Center, Dayton, Ohio

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索取号：TP216-53/E901/1982
作者：IEEE International Automatic Testing Conference (1982 : Dayton、 Ohio)、Institute of Electrical and Electronic Engineers.、
出版社：New York, N.Y. (345 E. 47th St., New York 10017) : IEEE, c1982.

ATE : automatic test equipment

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索取号：TP216/E901
作者：Stover、 Allan C.、
出版社：New York : McGraw-Hill Book Co., 1984.

Autotestcon '83, November 1,2,3, Hyatt Regency, Tarrant County Convention Center, Fort Worth, Texas new horizons in automatic testing

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索取号：TP216-53/E901/1983
作者：Autotestcon '83 (1983 : Fort Worth、 Tex.)、Institute of Electrical and Electronics Engineers.、
出版社：New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Piscataway, NJ : Copies from Order Dept., IEEE, c1983.

Automated testing for electronics manufacturing : ATE Seminar/Exhibit, January 30-February 1, 1978, L. A. Marriott, Los Angeles, CA : proceedings

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索取号：TP216-53/E801/1978
作者：ATE Seminar、 2d、 Los Angeles、 1978.、Circuits manufacturing.、
出版社：[s.l.] : Benwill Pub. Corp., c1978.

Automated testing for electronics manufacturing, March 21-23, 1977 ... Cambridge, MA. : proceedings, ATE Seminar and exhibit

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索取号：TP216-53/E801/1977
作者：ATE Seminar、 Cambridge、 Mass.、 1977.、
出版社：[s.l.] : Benwill Pub. Corp., c1977.

基于虛拟仪器技术个人实验室的构建

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索取号：TP216/20071
作者：陆绮荣、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2006

虛拟仪器技术与设计

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索取号：TP216/20062
作者：余成波、冯丽辉、潘盛辉、
出版社：重庆 : 重庆大学出版社, 2006

虛拟仪器原理及应用

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索取号：TP216/20063
作者：林君、谢宣松、
出版社：北京 : 科学出版社, 2006

智能仪器设计基础

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索取号：TP216/20061
作者：金锋、
出版社：北京 : 清华大学出版社 : 北京交通大学出版社, 2005