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名称 微电子计量测试技术
索引号 TN407/20101
分类号 TN407
TN407(测试和检验)
TN40(一般性问题)
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 沈森祖、韩红星、刘文捷、吴丹、
出版社 西安 : 西北工业大学出版社, 2009
ISBN 978-7-5612-2516-5
页数 227页 : 图 ; 26cm
价格 CNY30.00
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简介
注解 题名页题: 沈森祖, 韩红星, 刘文捷, 吴丹著 英文并列题名取自封面 有书目 本书从工程的实际应用出发, 系统地介绍了微电子计量测试的基本概念, 并通过电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计开发技术等部分, 深入介绍了作者及所在团队——中船重工集团公司第709研究所第六研究室 (国防微电子一级计量站)——25年来, 在研究、工作实践中取得的主要成果和经验。 可供相关工程技术人员、科研人员阅读参考, 也可作为高等学校有关专业教材或教学参考书
书籍简介

《微电子计量测试技术》对微电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计，从概念到具体的技术细节，都作了系统的介绍，具有很好的实用价值。我相信，《微电子计量测试技术》对从事微电子计量测试的专业技术人员、相关的管理干部，以及相关专业的学生们都有很好的参考价值。