大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 测试和检验(分类号：TN407)(共7本)

分类依据：应用计算机辅助测试入此。

物联网测控集成电路

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索取号：TN407/20141
作者：赵负图、
出版社：北京 : 化学工业出版社, 2014

SOC测试

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索取号：TN407/20121
作者：雷绍充、邵志标、
出版社：西安 : 西安交通大学出版社, 2012

微电子计量测试技术

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索取号：TN407/20101
作者：沈森祖、韩红星、刘文捷、吴丹、
出版社：西安 : 西北工业大学出版社, 2009

混合信号集成电路测试与测量

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索取号：TN407/20093
作者：伯恩斯、罗伯茨、冯建华、肖钢、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2009

最新集成电路测试技术

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索取号：TN407/20092
作者：高成、张栋、王香芬、
出版社：北京 : 国防工业出版社, 2009

集成电路测试技术基础

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索取号：TN407/20091
作者：姜岩峰、张晓波、杨兵、
出版社：北京 : 化学工业出版社, 2008

现代集成电路测试技术

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索取号：TN407/20071
作者：
出版社：北京 : 化学工业出版社, 2006