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名称 SOC测试
索引号 TN407/20121
分类号 TN407
TN407(测试和检验)
TN40(一般性问题)
TN4(微电子学、集成电路（IC）)
TN(无线电电子学、电信技术)
T(工业技术)
作者 雷绍充、邵志标、
出版社 西安 : 西安交通大学出版社, 2012
ISBN 978-7-5605-3975-1
页数 257页 : 图 ; 23cm
价格 CNY31.00
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简介
注解 有书目 本书系西安交通大学研究生创新教育系列教材，主要介绍了SOC测试与可测性设计的理论和相关知识。
书籍简介

雷绍充、梁峰、张鸿、张国和编著的《SOC测试》系统化介绍SOC测试方法与结构，主要内容包括SOC测试的原理和标准，扫描测试与内建自测试，软件自测试，测试压缩，低功耗测试，延迟测试，模拟与混合电路测试，RF电路测试，SOC与NOC测试。
《SOC测试》既可作为高等院校电子与信息、计算机科学与技术和电气工程类高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用、EDA和ATE专业人员的参考用书。