大拱桥--暨南大学学生门户 » 图书馆 » 材料(分类号：TN304)(共104本)

氧化锌半导体材料掺杂技术与应用

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索取号：TN304.2/20101
作者：叶志镇、吕建国、张银珠、
出版社：杭州 : 浙江大学出版社, 2009

Ⅳ族、Ⅲ-Ⅴ族和Ⅱ-Ⅵ族半导体材料的特性

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索取号：TN304/20101
作者：安达隆史、季振国、
出版社：北京 : 科学出版社, 2009

日本の半導体開発 : 超LSIへの道を拓いた男たち

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索取号：TN304/J901
作者：中川靖造、
出版社：東京 : 講談社, 1985.11

化合物半導体デバイス

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索取号：TN304.2/J901
作者：日本産業技術振興協会、
出版社：東京 : 工業調査会(発売), 1973.9

高分子半導体

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索取号：TN304.5/J901
作者：三川礼、艸林成和、
出版社：東京 : 講談社, 1977.10

Amorphous and polycrystalline thin-film silicon science and technology--2009 : symposium held April 14-17, 2009, San Francisco, California, U.S.A.

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索取号：TN304.8-532/E20101
作者：
出版社：Warrendale, Pa. : Materials Research Society, c2009.

硅材料检测技术

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索取号：TN304.1/20101
作者：康伟超、王丽、
出版社：北京 : 化学工业出版社, 2009

化合物半导体器件

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索取号：TN304.2/20091
作者：吕红亮、张玉明、张义门、
出版社：北京 : 电子工业出版社, 2009

纳米氧化锌制备原理与技术

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索取号：TN304.2/20092
作者：马正先、姜玉芝、韩跃新、张士成、
出版社：北京 : 中国轻工业出版社, 2009

半导体薄膜技术与物理

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索取号：TN304.055/20091
作者：叶志镇、吕建国、吕斌、
出版社：杭州 : 浙江大学出版社, 2008

纳米半导体

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索取号：TN304/20092
作者：马洪磊、薛成山、
出版社：北京 : 国防工业出版社, 2009

Defects in silicon : proceedings of Symposium B on Science and Technology of Defects in Silicon of the 1989 E-MRS Conference, Strasbourg, France, 30 May-2 June 1989

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索取号：TN304.1-53/E901/1989
作者：Symposium B on Science and Technology of Defects in Silicon (1989 : Strasbourg、 France)、Ammerlaan、 C. A. J. (Cornelis Antonius Josephus)、Chantre、 A.、Wagner、 P.、European Materials Research Society. Meeting (1989 : Strasbourg、 France)、
出版社：Amsterdam ; New York : North-Holland ; New York, NY, USA : Sole distributors for the USA and Canada, Elsevier Science Pub. Co., 1989.

Semiconductor silicon 1973

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索取号：TN304.1-53/E801/2
作者：International Symposium on Silicon Materials Science and Technology (2nd : 1973 : Chicago、 Ill.)、Huff、 Howard R.、Burgess、 Ronald R.、Electrochemical Society. Electronics Division.、Electrochemical Society. Electrothermics and Metallurgy Division.、
出版社：Princeton, N.J. : Electrochemical Society, c1973.

Lsi & boards : digest of papers, 1978 Semiconductor Test Conference, October 31, November 1, 2, 1978, held at Cherry Hill, New Jersey

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索取号：TN304.07-53/E801/1978
作者：Semiconductor Test Conference (1978 : Cherry Hill、 Township、 N.J.)、IEEE Computer Society. Test Technology Committee.、Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.、
出版社：New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Long Beach, Calif. : available from IEEE Computer Society Publications Office, c1978.

Modern MOS technology : processes, devices, and design

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索取号：TN304.2/E902
作者：Ong、 DeWitt G.、
出版社：New York : McGraw-Hill, c1984.

Liquid semiconductors

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索取号：TN304.83/E802
作者：Cutler、 Melvin、 1923-、
出版社：New York : Academic Press, 1977.